介质损耗（Dielectric Loss）指绝缘资料在交变电场效果下发生的能量损耗，通常以
C、半导体封装资料的可靠性；介质损耗测验仪经过精准丈量tanδ和介电常数（ε），成为电力设备、电子元件、高分子资料研制中不可或缺的精细检测设备。
2.1 根底丈量模型选用Schwarz-Christoffel反演法的改善算法，根据并联/串联等效电路剖析：2.2 干流技能道路. 中心功用模块
▶ 频率规模：工频50Hz至高频2MHz可编程▶ 温度条件：装备恒温腔（-40℃~200℃）
▶ 主动消除电极边缘效应差错（三电极法）▶ 温漂校对功用（内置NTC温度传感器）安全防护体系
▶ 触摸放电维护（契合IEC 61010-1）▶ 过流/过压两层硬件熔断机制4. 职业使用场景
机器学习算法：主动识别资料老化拐点（如IEEE 286标准老化模型）云数据剖析：树立资料介电功能数据库（如NIST联合开发项目）
介质损耗测验技能正从单一的参数丈量向着资料本征特性剖析体系演进。挑选适配的测验设备，并合作标准的操作的进程，将协助用户在新能源器材研制、电力设备状况评价等要害范畴取得精准数据支撑。
